GJB 2649-1996 军用电子元件失效率抽样方案与程序
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ID： |
A3692246B929436BA6CDB8B292DC007B |
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文件大小(MB)： |
1.77 |
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页数： |
44 |
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文件格式： |
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日期： |
2024-7-13 |
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中华人民共和国国家军用标准,FL 5900 GJB 2649 -96,军用电子元件,失效率抽样方案和程序,Failure ratc sampling plans and procedures,for military electronic component parst,1996-06-04 发布1996-12-01 实施,国防科学技术工业委员会批准,前言,本标准等效采用美国军用标准MIL - STD - 690C 7993。690始,于1963年5月20日，1965年7月29日形成A版,1968年4月17 0,形成B版，在A版和B版共出过4次通告°所以,690C是最新版本,本标准的内容规定了失效率等级的鉴定程序,在选定的置信水平,下确定和维持失效率等级的抽样方案，以及与失效率试聆行关的批一,致性检验程序,共4和抽样程序和相应的4和抽样方案,本标准主要适用于电子元件，其寿命服从指教分布。对于寿命服,从其它寿命分布的电子元件可参考使用,本标准附录A（补充件）为规范编写人员在使用本标准时提供指,南，并为规定有可靠性指标的元件的使用者提供参考资相,本标准附录B（参考件）为失效率试⑥记录表格示例,本标准中的附表是按指数分布编制吼时使用和研究“失效率抽,样方案和程序”有重要参考意义,目 次,1范围.. （1）,1.1 主题内容..（1）,1.2 适用范围..（1）,2 引用文件. （1）,3定义.. （1）,3.1 置信水平..（D,3.2 失效率. （2）,3.3 失效率等级 .. （2）,3.4 失效率试验.. （2）,3.5 较高失效率等级 . （2）,3.6 较低失效率等级. （2）,3.7 检验批. （2）,3.8 真实失效率.. （2）,3.9 截止 （2）,4 一般要求. （2）,4.1 失效率等级.. （2）,4.2 失效判据..（3）,4.3 失效率试验记录. （3）,4.4 数据的删除.. （4）,4.5 失效率鉴定程序 . （4）,4.6 批一致性失效率检验程序（当规定时） （4）,4.7 样品的处理（4）,5 详细要求 . （4）,5.1 程序I “失效率等级的初始鉴定” . （4）,5.2 程序n “失效率等级的升级” .. （6）,5.3 程序nr失效率等级鉴定的维持”. （7）,5.4 程序IV"批一致性失效率检验”.. （11）,5.5 寿命试验数据的截止程序..（12）,6说明事项. （13）,6.1 失效率等级变换. （13）,6.2 元件小时数的计算.. （13）,6.3 真实失效率的计算.. （13）,附录A 产品规范编写指南（补充件） . *.. （23）,附录B失效率试验记录表格示例（参考件）.（38）,中华人民共和国国家军用标准,军用电子元件,失效率抽样方案和程序 GJB 2649-96,Failure rate sampling plans and procedures,for military electronic component parsts,1范围,1.1 主题内容,本标准规定了失效率等级的鉴定程序,在选定的置信水平下确定和维持失效率等级的抽,祥方案，以及与失效率试验有关的批一致性检验程序,1.2 适用范围,当符合下列条件时，本标准适用于在军用电子元件规范中引用,a.电子元件的设计基本上是相同的，生产基本上是连续的，生产工艺控制应符合GJB,546A《电子元器件质量保证大纲》的规定；,b.电子元件可以合理地假定，其寿命服从指数分布,失效率在预期寿命内随时间是恒定,不变的。对于服从威布尔分布的某些元件（如电容器）也可采用威布尔分布，但须经鉴定机构,批准,1.3 应用指定南,a.本标准还为规范编写人员在使用本标准时提供指南（见附录A）,并为规定有可靠性指,标的元件的使用者提供参考资料；,b.鉴定机构应对本标准进行管理,2引用文件,GB/T 3358.1 -93 统计学术语 第一部分 一般统计术语,GB/T 3358.2-93统计学术语 第二部分 统计质量控制术语,GB/T 3358.3-93统计学术语第三部分试验设计术语,GJB 451 - 90可靠性维修性术语,GJB 546A - 96 电子元器件质量保证大纲,3定义,除下列定义外，本标准所用全部术语的定义均符合GB 3358和GJB 451,3 . 1 置信水平 confidence level,国防科学技术工业委员会1996 - 06-04发布 1996-12-01实施,1,GJB 2649-96,产品的真实失效率等于被定等级的最大失效率时，产品被判定为不合格的概率,3.2 失效率 failure rate,产品标准规定的额定条件下的失效率,3.3 失效率等级 failure rate level,在规定置信水平下的最大失效率,通常以每试验lOOOh的失效百分数来表示（％/1000h）,本标准规定的失效率等级为L（当规定时），M（l）,P（0」）,R（0.01）,S（0.001）,3.4 失效率试验 failure rate test,为确定产品的失效率等级而进行的寿命试验,3.5 较高失效率等级 higher failure rate level,描述单位时间内失效数较少的失效率等级,3.6 较低失效率等级 lower failure rate level,描述单位时间内失效数较多的失效率等级,3.7 检验批 inspection lot,按产品规范的规定进行组合并同时提交检验的一组电子元件,3.8 真实失效率 true failure rate,当某一受控加工程序中的所……
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